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高電阻率計 包裝材料防靜電特性評估 測量絕緣材料、半導體薄膜、防靜電層等的高表面電阻率（Ω/□）與體積電阻率（Ω·cm），覆蓋 10³–10¹? Ω 的超寬量程，適用于研發、品管、FA 實驗室。

PI、BCB薄膜研發高阻評估高電阻率計 測量絕緣材料、半導體薄膜、防靜電層等的高表面電阻率（Ω/□）與體積電阻率（Ω·cm），覆蓋 10³–10¹? Ω 的超寬量程，適用于研發、品管、FA 實驗室

絕緣高阻材料測量臺式高電阻率計 超寬量程單臺覆蓋 10³ – 10¹? Ω（@ 1 V–1000 V），無需更換主機即可測防靜電薄膜到絕緣樹脂。 1 V–1000 V 可編程掃描 29 檔施加電壓，帶“自動電壓掃描”模式，一次獲得電阻-電壓曲線，便于研究材料的非線性、擊穿特性。

nittoseiko環氧樹脂半導體薄膜高電阻率計 用途：測量絕緣材料、半導體薄膜、防靜電層等的高表面電阻率（Ω/□）與體積電阻率（Ω·cm），覆蓋 10³–10¹? Ω 的超寬量程，適用于研發、品管、FA 實驗室。

液晶顯示器觸控評估自動電阻率測定儀 對導電薄膜、金屬箔、ITO 玻璃、觸控/光伏大板等進行全自動二維 mapping，快速可視化整板電阻率（Ω/□）分布與均勻性，適用于生產線來料檢驗、工藝優化與失效分析。

桌面型ITO玻璃膜厚分布可視化低電阻率計 對導電薄膜、金屬膜、ITO 玻璃等樣品進行“表面電阻率 Ω/□”與“體積電阻率 Ω·cm”二維 mapping，快速可視化膜厚/組分均勻性。

導電薄膜膜厚分布評估低電阻率自動測定儀 對導電薄膜、金屬膜、ITO 玻璃等樣品進行“表面電阻率 Ω/□”與“體積電阻率 Ω·cm”二維 mapping，快速可視化膜厚/組分均勻性。

藥品食品粉體壓縮導電性評估自動電阻測量儀 全自動一鍵測量 設定目標載荷后按 START，加壓、電阻率計算、密度計算、數據保存全部自動完成。 超低載荷對應（0.01 kN 起） 新開發“氣缸泵”結構，可對易碎、低屈服粉體進行無破壞階梯加壓，分辨率 0.001 kN。 粉體專用 4 探針 & 環形電極 同一探頭內集成 4 探針（體積電阻率）與環形電極（表面/泄漏電流抑制），無需更換夾具即可在任意壓力下