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PI、BCB薄膜研發高阻評估高電阻率計 測量絕緣材料、半導體薄膜、防靜電層等的高表面電阻率（Ω/□）與體積電阻率（Ω·cm），覆蓋 10³–10¹? Ω 的超寬量程，適用于研發、品管、FA 實驗室
產品型號：MCP-HT800廠商性質：經銷商更新時間：2025-11-21訪 問 量：60
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PI、BCB薄膜研發高阻評估高電阻率計
PI、BCB薄膜研發高阻評估高電阻率計
高電阻電阻率計
用途：測量絕緣材料、半導體薄膜、防靜電層等的高表面電阻率（Ω/□）與體積電阻率（Ω·cm），覆蓋 103–101? Ω 的超寬量程，適用于研發、品管、FA 實驗室
| 項目 | 參數 |
|---|---|
| 測量范圍 | 103 – 101? Ω（電流 1 mA – 0.1 fA） |
| 施加電壓 | 1 – 1000 V，29 檔，步進 1 V（≤100 V）/ 10 V（>100 V） |
| 電壓精度 | ±0.5 % |
| 電流分辨率 | 0.1 fA |
| 電極配置 | 同心雙環（主電極 φ50 mm，環電極 φ70 mm） |
| 測量時間 | 1 – 999 s 可設，自動判定穩定后保持 |
| 精度 | ±2 % @ 10? – 1013 Ω（23 ℃±5 ℃，45–65 %RH） |
| 放電功能 | 測量前后自動反向放電，時間 1 – 999 s 可設 |
| 溫濕度記錄 | 內置傳感器，精度 ±0.5 ℃ / ±2 %RH |
| 數據輸出 | USB（CSV/PDF），可選 LAN |
| 電源 | AC100 – 240 V，50/60 Hz，約 60 W |
| 尺寸/重量 | 330 × 300 × 120 mm，約 5 kg |
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