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日本nissin-kikai近紅外光譜測量水分氯離子 IRS-N0917Q 二維傅立葉變換光譜成像 通過實現可持續的社會 以貢獻為目標 比分散型等超一光譜力儀更 高感度·可獲取高分辨率的光譜數據。 比一般的傅立葉變換紅外分光度計（FTIR） 可同時獲取更廣泛的二維光譜數據。 不僅可以在實驗室中使用，也可以帶到現場使用。

日本nissin-kikai中紅外光譜分析儀測量系統 IRS-T0812Q 二維傅立葉變換光譜成像 通過實現可持續的社會 以貢獻為目標 比分散型等超一光譜力儀更 高感度·可獲取高分辨率的光譜數據。 比一般的傅立葉變換紅外分光度計（FTIR） 可同時獲取更廣泛的二維光譜數據。 不僅可以在實驗室中使用，也可以帶到現場使用。

日本理研rikenkeiki測量裝置有機電子材料用FAC-2介紹： 專用于光刻樣品的開爾文探針 輕松設置樣品，無需微調電極和樣品之間的距離 可在大氣中測量半導體樣品的費米能級 由于測量時間短，因此非常適合測量隨時間變化的情況，例如成膜或表面處理后金屬表面的變化

日本rikenkeiki光學測量儀用于半導體材料等 AC-5/AC-3 能夠使用平板開放式計數器對高達 4000 cps 的光電子進行計數 能夠安裝尺寸達 180 x 180 毫米的大型樣品 任何位置都可以通過點測量進行測量。 使用樣品更換器 (*) 可自動測量多達 25 個板狀或粉末狀樣品。 通過使用Xe（氙）燈（*），可以高靈敏度地測量不易產生電子的

日本Riken Keiki高輸出光學系統高精度測量 AC-2S Pro α/AC-2S Pro β 配備超過2μW的高光輸出光學系統 配備可測量2eV以上的低能量照射光學系統 高溫測量可達100℃ 膜厚測量 以 0.01eV 步長進行精確測量 配備高要求的多點測量和重復測量功能。 讀取AC-2、3、5數據后即可進行分析

日本keycom磁性材料磁導率測量系統范圍寬廣 PER01 1. 無縫和廣泛的帶寬覆蓋 KEYCOM可以提供測量系統，帶寬無縫覆蓋從100kHz到30GHz。 2. 可測量的價值 此系統可在寬頻帶內測量磁性材料的復合磁導率μr'-jμr“（其中，我們可提供20～30GHz的測量服務），半寬度ΔH，鐵磁共振松弛系數α（100MHz～10GHz）。

日本papalab忠實色彩再現相機光學系統測量 RC-4000 ●配備開發的光學系統 獲取一般 RGB 相機無法捕獲的廣泛忠實色彩信息。 ●配備三個12兆像素CMOS傳感器 輸出每種顏色的高分辨率圖像

日本kansai后向散射式粉塵監測儀測量穩定 KANSAI/日本 QAL360系列 非常適合測量大型鍋爐和大型窯爐中的粉塵濃度！ 采用后向散射方式，安裝方便，可維護性高！ 采用后向散射方式，單面安裝非常方便。 兼容風管直徑1-15m 不易受各種條件影響，測量穩定 高分辨率0.1mg/ m3 具有自診斷功能