日本densoku電測金鉻等薄膜鍍層測厚儀
日本densoku電測金鉻等薄膜鍍層測厚儀
通過電解液可測量各種金屬鍍層（鉻、鎳、銅、錫、化學(xué)鍍鎳、鐵、鋅、銦、銀等）的膜厚。這是一款適用于多種鍍層的高精度測厚儀。

• 范圍設(shè)定簡單：
• 由于所有設(shè)置都是通過旋鈕進(jìn)行的，因此可以輕松地為要測量的鍍層進(jìn)行最佳設(shè)置。
• 輕便、緊湊：
• 本體重量為3.0公斤，機(jī)身非常輕便且緊湊。
• 增加高靈敏度范圍：
• 在靈敏度設(shè)置中，與前一型號相比，可以進(jìn)行更高靈敏度的設(shè)置，從而提高測量的穩(wěn)定性。
• 廣泛的校準(zhǔn)范圍：
• 通過標(biāo)準(zhǔn)板校準(zhǔn)的校準(zhǔn)范圍為±15％，范圍廣泛。
• 可實(shí)現(xiàn)1/100范圍：
• 可以對應(yīng)金（Au）、鉻（Cr）等薄膜鍍層的1/100范圍（以0.001μm為單位進(jìn)行測量）。
• 標(biāo)準(zhǔn)配備三種墊圈尺寸：
• 可以使用φ3.4、φ2.5、φ1.8三種尺寸的墊圈。
• 搭載主動(dòng)功能：
• 通過主動(dòng)功能可以去除少量的氧化膜，從而減少因氧化膜導(dǎo)致的測量失敗。

• 電腦規(guī)格，功能齊全：
• 采用對話形式，易于使用，數(shù)據(jù)處理也很簡單。
• 具備電位圖顯示、統(tǒng)計(jì)處理等功能。
• 測量條件最多可注冊50個(gè)通道。
• 可分別測量純錫層和合金錫層：
• “錫/銅"測量可以分別測量純錫層和合金錫層。
• 可測量雙層和三層鎳：
• 使用比較電極（需選配）和電位圖測量，可以觀察電位差的同時(shí)進(jìn)行雙層和三層鎳的測量。
• 最多可測量5層的多層鍍膜：
• 可以設(shè)置最多5層的多層鍍膜測量條件。
• 可測量線材和小部件：
• 使用WT（線材測試器）可以測量線材和小部件。*我們也提供測量方法的咨詢服務(wù)。
• 自動(dòng)顯示使用電解液的種類：
• 根據(jù)鍍膜和基底的組合，自動(dòng)顯示使用的電解液。
• 另外，可以輕松確認(rèn)測量前的表面處理方法。